특허 및 인증서
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- 특허 및 인증서
| No. | 구분 | 특허명 | 비고 |
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| 30 | [해외] | 探针和包括该探针的探针卡 (반도체 테스트소켓) |
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| 29 | [해외] | 半導体素子のテストソケット (반도체 테스트소켓) |
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| 28 | [해외] | SEMICONDUCTOR DEVICE TEST SOCKET(A) |
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| 27 | [해외] | SEMICONDUCTOR DEVICE TEST SOCKET(B) |
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| 26 | [국내] | 반도체소자 테스트소켓(B) |
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| 25 | [국내] | 처짐 방지를 위한 보강형 프로브 카드의 다중 캔틸레버 빔 구조체 및 그 제조방법 |
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| 24 | [국내] | 처짐 방지를 위한 트러스형 프로브 카드의 다중 캔틸레버 빔 구조체 및 그 제조방법 |
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| 23 | [국내] | 짧은 스크럽마크를 위한 프로브 카드의 다중 캔틸레버 빔 구조체 및 그 제조방법 |
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| 22 | [국내] | 프로브모듈 및 그 제조방법 |
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